Banner
首页 > 新闻 > 内容
红外成像仪的探测技术
- 2022-11-22-

  红外成像仪是一种采用红外探测技术,通过探测器和光电转换器件接收目标物体的红外辐射能量分布图案,并将其转换为电信号的设备。

  它利用物体发出的红外辐射来测量温度分布,所以又叫红外测温仪或红外热像仪。

  随着科学技术的发展,特别是现代微电子技术和计算机技术的引进和发展,传统的红外测温技术有了新的突破和提高。目前常用的非接触测温方法有:黑体辐射法、半导体制冷原理法、微波表面发射率法和光声效应法等。其中,常用的方法是黑体和半导体制冷原理。

  1、黑体辐射特性

  当加热到一定温度时,物体吸收的热量减少(或停止)了物体自身辐射的热量,此时的温度称为该点的温度TM;与吸收的热量相比,物体放出的热量可以忽略不计,不计时(通常小于1J/kg·k),此时物体的温度称为该点的表观温度Te。

  由于各种物质的分子运动理论不同,每种物质都有自己独特的谱线特征和吸收、发射功率密度值(即吸收系数和功率密度)。根据这些特性,可以选择合适的光源进行测量。

  2.晶体硅材料

  对于一般气体,由于其分子的振动频率接近晶体在室温下的共振频率范围,加热过程中产生的红外能量基本可以忽略不计,而对于固体,如晶体硅材料,则不然。由于其导热性差,在加热过程中会产生大量的红外能量损失,从而影响测量精度和质量稳定性。

  3.半导体材料

  对于半导体来说,由于其电子能级较高,其电磁波长较长,导致加热过程中能量损失较大(主要是热损失)。

  4.其他

  如陶瓷材料、金属玻璃等。

  以上材料各有特点,但就使用效果而言,晶硅和LED是好的。

  5.光学系统

  用于检测的温度范围为-150℃~+1500℃的高温热像显示仪。主要用于工业领域高温部件的温度检测和控制以及军事领域的应用。

2022031809495421f792b01a4849018c7c49b6403c849d